說到氣體試漏設(shè)備，它可以簡(jiǎn)單地集成到包裝過程中以提高產(chǎn)品質(zhì)量并減少浪費(fèi)，然后可以為操作員提供對(duì)包裝質(zhì)量的清晰理解。氣體試漏設(shè)備的整個(gè)測(cè)試過程是非破壞性和非侵入性的。 同時(shí)，在實(shí)際使用時(shí)無需準(zhǔn)備樣品。 

　　氣體試漏設(shè)備可設(shè)計(jì)為檢測(cè)軟，硬和半硬包裝?？梢栽谌魏尾襟E執(zhí)行測(cè)試，并且可以在同一樣本上執(zhí)行多個(gè)測(cè)試。測(cè)試后，可以將好的包裝重新插入包裝線，而不會(huì)造成任何損壞。就這種檢查方法而言，它實(shí)際上可以提供更可靠，非常經(jīng)濟(jì)和有效的包裝測(cè)試解決方案。 

　　此后，關(guān)于氣體試漏設(shè)備，此時(shí)，我們還應(yīng)注意不同處理器可能對(duì)不同產(chǎn)品產(chǎn)生誤導(dǎo)性結(jié)果的問題。氣體試漏設(shè)備是專為軟袋包裝設(shè)計(jì)的無損泄漏檢測(cè)系統(tǒng)。提供定性結(jié)果（通過或失?。约跋嚓P(guān)的定量數(shù)據(jù)，泄漏率和泄漏量。 

　　為了滿足不同包裝規(guī)格和檢測(cè)靈敏度的要求，氣體試漏設(shè)備提供了多種氣體試漏設(shè)備和不同尺寸的測(cè)試室容量。氣體試漏設(shè)備使用美國ASTM批準(zhǔn)的無損真空衰減泄漏測(cè)試方法（F2338），這是美國FDA認(rèn)可的包裝完整性測(cè)試的共識(shí)標(biāo)準(zhǔn)。 

　　氣體試漏設(shè)備是破壞性測(cè)試的實(shí)用替代方案。 與破壞性測(cè)試相比，與下沉測(cè)試進(jìn)行比較，在這種情況下，我們還必須注意更快的投資回報(bào)率。同時(shí)，使用氣體試漏設(shè)備，直接解決了影響產(chǎn)品質(zhì)量和保質(zhì)期的關(guān)鍵缺陷。